• <!--:ja-->溶液からの結晶成長<!--:--><!--:en-->Crystal growth from solution<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P8110011-e1414112632190.jpg

  <!--:ja-->硫酸グリシン水溶液中での再結晶。<!--:--><!--:en-->Recrystalization in aqueous solution of triglycine sulfate.<!--:-->

• <!--:ja-->ガイスラー管<!--:--><!--:en-->Geissler tube<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P4030304-e1414112782529.jpg

  <!--:ja-->放電色から真空度を見る簡易真空計として使用する。<!--:--><!--:en-->Geissler tube is used as a vacuum gauge by fluorescence.<!--:-->

• <!--:ja-->4軸X線回折計<!--:--><!--:en-->4-circle X-ray diffractometer<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P3010023-e1414113504560.jpg

  <!--:ja-->3つの軸で試料の向きを自在に変えてX線回折実験を行う。残る1軸で検出器の向きを決める。<!--:--><!--:en-->X-ray diffraction is carried out by orienting sample using three axes. The remaining axis is for orientation of the detector.<!--:-->

• <!--:ja-->履歴曲線<!--:--><!--:en-->Hysteresis loop<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P9080264-e1414116422842.jpg

  <!--:ja-->オシロスコープの横軸は電場の強さで、縦軸は試料に溜まった電荷量。電荷量が電場の大きさに比例していないことが分かる。<!--:--><!--:en-->Horizontal axis of oscilloscope shows intensity of electric field and the vertical axis is the amount of charge accumulated in the sample by the electric field. The charge is not proportional to the electric field.<!--:-->

• <!--:ja-->X線回折実験用サンプル<!--:--><!--:en-->Sample for X-ray diffraction<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/LHS-Xray-sample2-e1414116906368.jpg

  <!--:ja-->単結晶のX線回折を行う時の試料。大きさは0.3mmの球形。試料の下に支持のためのガラス棒が取り付けてある。<!--:--><!--:en-->Single crystal sample for X-ray diffraction. The shape and size are spherical and 0.3mm. Glass rod for the support is attached to the bottom of the sample.<!--:-->

• <!--:ja-->スパッタ法で作製した酸化チタン薄膜<!--:--><!--:en-->Titanium oxide thin film prepared by sputtering<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/SnO2-A-e1414118600650.png

  <!--:ja-->酸化チタン薄膜の表面（左）と断面（右）。隙間が多いので広い表面積を得られる。<!--:--><!--:en-->Surface of the titanium oxide thin film (left) and the cross-section (right). Large porosity has advantage for a large surface area.<!--:-->

• <!--:ja-->酸化チタンナノロッド<!--:--><!--:en-->Titanate nanorods<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/TiO2-A-e1414120058513.png

  <!--:ja-->太さが数百ナノメートルの平板状の酸化チタンナノロッドが生えている。<!--:--><!--:en-->Titanium oxide tabular nanorods with several hundred nanometers in thickness have grown.<!--:-->

• <!--:ja-->酸化タングステンナノ粒子<!--:--><!--:en-->Tungsten trioxide nanoparticles<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/WO3-A-e1414122617828.png

  <!--:ja-->熱処理温度（600℃左、800℃右）により粒子サイズが変わる。<!--:--><!--:en-->Particle size changes (600℃ left, 800℃ right) with the heat treatment temperature.<!--:-->

• <!--:ja-->スパッタ法による薄膜の作製<!--:--><!--:en-->Preparation of thin film by sputtering<!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/DSCN0285-e1414715562683.jpg

  <!--:ja-->希ガスの放電プラズマを利用したスパッタ現象による薄膜作製。<!--:--><!--:en-->Thin film are produced by a sputtering phenomenon utilizing a discharge plasma of noble-gas.<!--:-->

• <!--:ja-->全自動ガス吸着測定装置<!--:--><!--:en-->Automatic gas sorption analyzer <!--:-->

  http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/12/DSCN0290.jpg

  <!--:ja-->ミクロ細孔をもつ物質の表面積や細孔径分布の測定を行います。<!--:--><!--:en-->Measurement of surface area and pore size distribution of materials with micropores.<!--:-->

 

Many technological advancements have resulted from the discovery and development of materials with new properties or functions.

The Basic Material Group has been developing single crystal growth and nanoparticle fabrication techniques of new semiconductors and dielectric materials. Their physical properties and application with them have also been investigated.