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溶液からの結晶成長
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P8110011-e1414112632190.jpg硫酸グリシン水溶液中での再結晶。
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ガイスラー管
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P4030304-e1414112782529.jpg放電色から真空度を見る簡易真空計として使用する。
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4軸X線回折計
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P3010023-e1414113504560.jpg3つの軸で試料の向きを自在に変えてX線回折実験を行う。残る1軸で検出器の向きを決める。
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履歴曲線
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/P9080264-e1414116422842.jpgオシロスコープの横軸は電場の強さで、縦軸は試料に溜まった電荷量。電荷量が電場の大きさに比例していないことが分かる。
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X線回折実験用サンプル
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/LHS-Xray-sample2-e1414116906368.jpg単結晶のX線回折を行う時の試料。大きさは0.3mmの球形。試料の下に支持のためのガラス棒が取り付けてある。
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スパッタ法で作製した酸化チタン薄膜
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/SnO2-A-e1414118600650.png酸化チタン薄膜の表面(左)と断面(右)。隙間が多いので広い表面積を得られる。
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酸化チタンナノロッド
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/TiO2-A-e1414120058513.png太さが数百ナノメートルの平板状の酸化チタンナノロッドが生えている。
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酸化タングステンナノ粒子
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/WO3-A-e1414122617828.png熱処理温度(600℃左、800℃右)により粒子サイズが変わる。
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スパッタ法による薄膜の作製
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/10/DSCN0285-e1414715562683.jpg希ガスの放電プラズマを利用したスパッタ現象による薄膜作製。
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全自動ガス吸着測定装置
http://piezo.eng.u-toyama.ac.jp/wp-content/uploads/2014/12/DSCN0290.jpgミクロ細孔をもつ物質の表面積や細孔径分布の測定を行います。
新しい性質や機能を持った材料を発見したり開発したりすることで、多くの技術が進歩してきました。 基礎物性工学研究室では新しい半導体や誘電体の単結晶やナノ粒子作製技術を開発し、それらの物理的性質と応用に関する研究を行っています。